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presentes en la substancia
Para diferentes distancias de trabajo
dos placas metálicas para inyectores
Opcionalmente estan disponibles un objetivo plano fluarex (IOS) de larga distancia de trabajo 4x/0
PM.5400 Microscopio para Petrologia presentes en la substanciaLa concentracin y la pureza de una substancia pticamente activa pueden ser medidas por un polarmetro. En efecto, el plan de polarizacin de un rayo luminoso con polarizacin lineal, ser modificado por una substancia pticamente activa. El grado de la modificacin se determinar por la composicin molecular y es proporcional a la concentracin de las molculas quierales, presentes en la substancia. La capacidad de modificar el plan de polarizacin de un rayo